國儀中心於 8 月 26 日非常榮幸邀請到美國德州大學達拉斯分校材料科學與工程學系 (Department of Materials Science and Engineering, University of Texas at Dallas, UTD)，同時也是國立臺北科技大學材料及資源工程系玉山學者的徐婉萍教授 (Prof. Julia W.P. Hsu)，以及北科大材料及資源工程系的張裕煦教授蒞臨國儀中心參訪！

交流過程中，兩位教授與國儀中心團隊針對極紫外光 (Extreme Ultraviolet Lithography, EUV) 檢測設備與技術展開了熱烈的討論與經驗分享。EUV 是推動下一代半導體關鍵技術的重要核心，透過這次跨領域的深層交流，為未來在半導體檢測技術上的產學研發合作激盪出更多火花！