
國研院蔡宏營院長 (圖中) 率國研院全體參展同仁於展區合影。
未來科技展於 2026 年 9 月 17 日至 19 日,於台北世貿一館未來科技館盛大登場。國研院國儀中心誠摯邀請產、官、學、研各界蒞臨參觀,深入探索前瞻科技研發成果,與我們交流最新技術與產業應用趨勢。
本次展出聚焦三大技術主軸:
前瞻半導體設備與材料在地化|高光譜顯微影像分析|學術、國防與太空自主光學
國研院國儀中心將展示多年累積的研發能量,涵蓋立方衛星遙測光學系統、高光譜顯微影像分析、微型推掃式高光譜技術、EUV 反射鏡鍍膜技術,以及拉曼臨場檢測技術,展現精密光學與先進量測技術在半導體、太空及科研領域的創新應用。
現場精彩展品
展會期間,國研院國儀中心專業研發團隊將於現場進行技術展示與交流,帶您近距離認識前瞻科技,包括:
• 立方衛星遙測光學系統實體展示
• 高光譜顯微影像分析儀-可實際操作,體驗高光譜影像分析技術
• 微型推掃式高光譜儀-探索微型化高光譜技術與應用
• 奈米尺度鉬/矽多層膜-認識先進光學鍍膜技術
• 拉曼臨場檢測探頭-展現快速、即時的材料分析能力
透過實體展品與現場互動,我們期待與產業及學研夥伴深入交流,尋找技術合作、研發鏈結與產業應用的新契機。

國研院蔡宏營院長 (圖中) 率國研院全體參展同仁於展區合影。

國研院蔡宏營院長 (右) 蒞臨國儀中心展點,為展出團隊加油打氣,並與國儀中心潘正堂主任 (左) 合影。

國科會吳誠文主委行 (右) 蒞臨國研院國儀中心展點,聽取潘正堂主任 (左) 介紹立方衛星遙測系統及相關技術。

國儀中心研究人員向現場參訪民眾解說立方衛星遙測系統及相關技術。

國儀中心研究人員向現場參訪民眾解說拉曼臨場檢測與晶圓級二維材料之相關技術。

國儀中心研究人員向現場參訪民眾解說高光譜顯微影像分析儀之相關技術。