1995 年 12 月出版
科儀新知 第 89 期
微電子材料分析專題
歐傑電子顯微鏡與微電子工業技術
潘扶民
穿透式電子顯微鏡分析技術在積體電路製造上的應用
謝詠芬
原子力顯微術及其在半導體研究上的應用
林鶴南, 李龍正, 劉克迅
SEM/EDS 與 FIB 的原理及其在半導體工業之應用
黃永盛
TRXRF 分析技術在半導體製程的應用
陳信吉, 范俊敏, 陸敬業
拉塞福回向散射分析及其應用
吳秀錦
二次離子質譜儀在積體電路製程的應用
陳季南
超臨界流體萃取和潔淨科技 (下)
林新發, 凌永健, 廖俊雄, 陳健忠
干涉儀系統之研製
高清芬