1996 年 8 月出版
科儀新知 第 93 期
微電子量測技術專題
元件電性量測技術
陳明哲
製程與元件可靠性量測
林耿立, 黃呂祥
積體電路工廠化學液及特殊氣體微量不純物之量測
詹淑芬
積體電路中晶片表面製程相關微粒之量測
黃文輝
積體電路製程中的微距量測技術
郭天麟, 黃明山
高速測試模組與高速可修補分析於記憶體 IC 之應用
吳萬錕
光纖耦合的二極體端面激發式固態雷射之優化研究：激發光束品質的影響
陳永富, 高清芬, 黃鼎名, 林奎輝
掃描式探針顯微鏡在電化學上的應用
黃炳照, 林依亮
雷射剝蝕感應耦合電漿質譜儀
謝芳吉, 凌永健
氣相層析儀選擇性硫化物偵檢器－硫化學螢光偵檢器
陳豔程, 羅俊光
高效毛細管電泳－微量層析的利器 (應用技術篇)
陳紹光
IC 封裝所呈現的晶片裂縫之影像
黃宗炘 [譯]